菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XULM240核心技術(shù)與硬件配置
X 射線源:50 kV/50 W 鎢靶微聚焦 X 射線管(鈹窗口),焦點≤50 μm;高壓三檔可調(diào)(30/40/50 kV);4 個電動切換準直器(最小 0.05×0.05 mm,標配含 ?0.1 mm、?0.2 mm 等),3 個自動切換基本濾片;比例計數(shù)管探測器,兼顧高計數(shù)率與快速測量。
定位與觀察:內(nèi)置 500 萬像素彩色視頻顯微鏡,38×–184× 光學變焦,實時顯示測量點;手動 XY 工作臺(行程 30×40 mm),定位精度 ±0.005 mm;測量方向為從下往上,C 型開槽樣品艙可容納高度 174 mm 的樣品。
軟件與標準:搭載 WinFTM® 軟件(標配 LIGHT 版,可選 BASIC/PDM/SUPER),支持 100 組程序預設(shè)、數(shù)據(jù)統(tǒng)計、報告生成與導出;符合 DIN ISO 3497、ASTM B568 及德國 RoV 射線安全法規(guī)。
關(guān)鍵性能指標
最小測量點:約 0.09×0.09 mm(≈?0.1 mm)
精度:Au > 0.1 μm 時,標樣校準誤差<±5%;無標樣<±10%;80 nm 金鍍層重復精度達 2.5 nm,COV(變異系數(shù))<5%
測量距離:0–27.5 mm 可調(diào),支持 DCM 距離補償
元素范圍:Cl(17)~ U(92),可同時分析最多 5 種元素,支持單 / 雙 / 三鍍層、合金鍍層厚度測量,以及 4 元合金成分分析
樣品參數(shù):高度 174 mm,XY 工作臺承重 2 kg;整機尺寸 403×588×444 mm,約 45 kg

